Analyses et surface
FrançaisEnglish ANALYSES ET SURFACE EQUIPE CERTIFICATIONS CONTACT TELECHARGER
           
     
LES COMPETENCES
AS Expertises de défaillances
AS Etudes matériaux
AS Caractérisation de corps étrangers
AS Topographie de surface sans contact
AS Etude du vieillissement des matériaux en environnement contrôlé
LES MOYENS TECHNIQUES
as Microscopie électronique à balayage couplée à la microanalyse X
as Microscope Numérique 3D
as Microtomographie X
as Spectrométrie à décharge luminescente
as Spectrométrie Vibrationnelle
as Diffraction des rayons X
as Station de mesure sans contact
as Granulométrie laser
as Microdureté
as Analyse calorimétrique (DSC)
as Enceintes de vieillissement environnemental
as Equipements d’essai mécanique sur revêtements
NOS REFERENCES
Spectrométrie à décharge luminescente



Définition :

La spectrométrie de décharge luminescente (SDL) est une technique d’analyse directe employée pour l’analyse de concentrations élémentaires et la réalisation de profils de concentrations d’échantillons solides.

Principe :

L’équipement de la SDL se compose d’une lampe à décharge connectée à une alimentation électrique, d’un spectromètre optique et d’un système d’acquisition et de stockage des données.

L’échantillon à analyser (qui doit être plan) est plaqué contre une électrode en cuivre (anode).

La décharge appliquée entre l’anode et la cathode provoque une érosion de la surface de la cathode (surface de l’échantillon). Les atomes éjectés sont alors excités par un plasma d’Argon, et leur retour à l’état fondamental s’accompagne d’une émission de photons d’énergie caractéristique.

Chaque longueur d’onde, caractéristique d’un élément spécifique, est ensuite reçue par des photomultiplicateurs, ce qui permet de quantifier la composition élémentaire de l’échantillon.

Il existe deux types d’analyses SDL :

- l’analyse de surface : suivi temporel des intensités lumineuses relatives à chaque élément
- l’analyse élémentaire : quantification de la composition élémentaire de l’échantillon

JPEG - 32.1 ko
Principle of the GD-OES analysis

JPEG - 55.5 ko
WC/C + TiAlN multilayer on steel substrate

Appareillage :

Jobin Yvon 5000 RF

Programmes d’analyse élémentaire : aciers, fontes, inox, aluminiums, brasures, cupro-aluminium)

Eléments détectés à partir de l’hydrogène

Limites de détection : propres à chaque programme, nous consulter

Profils qualitatifs sur tout type d’échantillon conducteur ( ->10 µm en profondeur)